検査用デバイス
Pinata(開発/プロトタイプ用ボード)

ピニャータボードは、 168MHzのクロック速度で動作するARMのCortex-M4Fコアをベースにした「開発ボード」です。組み込みデバイス向けのサイドチャネル解析およびフォルト攻撃のトレーニングターゲットです。差分電力 […]

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検査用デバイス
Transceiver

Transceiverを使えば、ノイズに隠れた貴重な信号を簡単に識別できます。最もノイズの多いシナリオでトリガをかけるための信頼性の高いパターンを持つことができ、SCA測定の質を高め、特定の対策の存在(例えば、ダミーラウ […]

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検査用デバイス
EM Probe Station

InspectorのEM Probe Stationは、電磁界解析のための完全なソリューションを提供します。Inspectorソフトウェアと統合された、3つのハードウェアコンポーネントと2つのEMプローブ及び電動XYZテ […]

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検査用デバイス
Spidor(組込みターゲット用ワークベンチ)

スパイダーは、通信とグリッチパターン生成のための単一の制御ポイントを作成することで、サイドチャネル解析(SCA)とフォルト注入(FI)での複雑さを軽減します。 組み込み機器向けのサイドチャネルまたはフォルト注入テストのた […]

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検査用デバイス
Modular Base Plate

組み込みデバイスを所定の位置に固定するための方法として、今まではテープで固定する程度しか方法はありませんでした。物理的に同じ場所でのセットアップを繰り返すことは容易ではありませんでした。 Base Plateを使うと、一 […]

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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
VC Glitcher

VC Glitcherは、Inspector FIアーキテクチャの中核を構成しています。このデバイスは、超高速FPGA技術を使用して2ナノ秒のフォルトを発生させることができ、ユーザによって容易にプログラム可能です。 VC […]

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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Glitch Amplifier

ほとんどの組み込みデバイスに対するフォルト攻撃には、ICカードよりもはるかに多くの電力を必要とします。Glitch Amplifierはこの要件を満たすように設計され、より広い範囲のターゲットフォルト攻撃テストを作ります […]

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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
High-Power Glitch Amplifier

電源を使用して組み込みデバイスにフォルトを注入するには、専用の装置を必要とします。信頼性のあるグリッチをターゲットに送るために、電源は最小限のノイズで十分な電力を供給し、急峻な電圧スパイクを生成するのに十分な電力を有する […]

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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
DPSS Lasers(532nm and 1064)

新しいDPSSレーザーは、レーザーカッターシステムより優れたフォルト攻撃機能を備えた信頼性の高いYVO4レーザーです。メリットとしては、短いトリガー時間(<1マイクロ秒)、電源出力の制御が容易でメンテナンスがしやす […]

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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Infrared Ring Light

レーザーによるフォルトを注入するためのチップの背面攻撃は、おもて面攻撃に対して利点を持っています。しかし、可視光ではシリコン基板がレイアウトを見るのを邪魔します。試験対象デバイスにレイアウト情報をマッピングする他の情報が […]

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