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フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)

Blue Laser(445nm)

非常に短い波長の「青色」ダイオードレーザーは、ICカードのシールドの小さな隙間に浸透することができます。

Multi-Area Diode Laser Station

複数スポットをサポートする、Diode Laser Stationのアップグレード版

Diode Laser Station

接触、非接触型ICカードおよび組み込みデバイスを対象に、高速で正確なレーザーによって誤動作を起こさせます。

EM-FI Transient Probe(高速EMパルス誘発プローブ)

局所グリッチ向けの高速パルスEMフォルト攻撃のためのプローブです。

Infrared Ring Light

チップの裏面のフォルト攻撃はレイアウトに関する情報が欠落しているため困難ですが、IR(赤外線)アップグレードによって解決可能です。

DPSS Lasers(532nm and 1064)

高速で信頼性の高いトリガと出力電力を容易に制御してフォルト攻撃を行うことができるレーザーカッターソースの代替製品です。

High-Power Glitch Amplifier

10Aまでに対応した、Glitch Amplifierよりさらにハイパワー版

Glitch Amplifier

組み込みプロセッサ向けにパワーを増幅させたVC Glitcherのアドオン

VC Glitcher

接触型ICカードを対象に、2ナノ秒の電力およびクロックで誤動作を起こさせます。