フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)

フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
VC Glitcher

VC Glitcherは、Inspector FIアーキテクチャの中核を構成しています。このデバイスは、超高速FPGA技術を使用して2ナノ秒のフォルトを発生させることができ、ユーザによって容易にプログラム可能です。 VC […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Glitch Amplifier

ほとんどの組み込みデバイスに対するフォルト攻撃には、ICカードよりもはるかに多くの電力を必要とします。Glitch Amplifierはこの要件を満たすように設計され、より広い範囲のターゲットフォルト攻撃テストを作ります […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
High-Power Glitch Amplifier

電源を使用して組み込みデバイスにフォルトを注入するには、専用の装置を必要とします。信頼性のあるグリッチをターゲットに送るために、電源は最小限のノイズで十分な電力を供給し、急峻な電圧スパイクを生成するのに十分な電力を有する […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
DPSS Lasers(532nm and 1064)

新しいDPSSレーザーは、レーザーカッターシステムより優れたフォルト攻撃機能を備えた信頼性の高いYVO4レーザーです。メリットとしては、短いトリガー時間(<1マイクロ秒)、電源出力の制御が容易でメンテナンスがしやす […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Infrared Ring Light

レーザーによるフォルトを注入するためのチップの背面攻撃は、おもて面攻撃に対して利点を持っています。しかし、可視光ではシリコン基板がレイアウトを見るのを邪魔します。試験対象デバイスにレイアウト情報をマッピングする他の情報が […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
EM-FI Transient Probe(高速EMパルス誘発プローブ)

EM-FI Transient Probeは、局所グリッチ向けの高速パルスEMフォルト攻撃のためのプローブです。光レーザーによるフォルト攻撃から守るため、チップ・パッケージはますます改善され、洗練された光感応センサーなど […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Diode Laser Station

レーザーフォルト攻撃に対してチップを保護することは、スマートカード業界の主要なセキュリティ上の課題の一つです。Diode Laser Stationでは、ユーザーはスマートカードがレーザー攻撃に対してセキュリティが担保さ […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Multi-Area Diode Laser Station

光によるフォルト注入は、チップダイの非常に小さなスポットに強力なレーザーパルスを照射することにより行われます。Riscure社は、光フォルト注入に対するダイ実装の脆弱性をタイミング、スポットサイズと消費電力の点でテストを […]

Read more
フォルト攻撃用検査器 (Inspector FI)
Blue Laser(445nm)

445nmの青色ダイオードレーザーを最近の出版物に基づいてリリースしました。ICカードのシールドのために求められるいくつかの特性には、新たな攻撃経路をもたらすことができるものがあります。ハイエンドな特性を有するRiscu […]

Read more